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日立熱場掃描電鏡SU7000

日立熱場掃描電鏡SU7000
SU7000采用全新設(shè)計(jì)的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時(shí)間，提高了測試效率。它還標(biāo)配超大樣品倉，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。

SU7000采用全新設(shè)計(jì)的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時(shí)間，提高了測試效率。它還標(biāo)配超大樣品倉，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。

日立熱場掃描電鏡SU7000
主要特點(diǎn)：
 

1. 在相同WD的條件下，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)二次電子、背散射電子觀察與X射線分析

2. 多可同時(shí)實(shí)現(xiàn)6通道檢測與顯示

3. 可配置18個(gè)附件接口

應(yīng)用領(lǐng)域：
 

金屬

復(fù)合材料

半導(dǎo)體器件

EBSP分析